説明
装置仕様
・Si、Moなどの等方性エッチング
・使用可能ガス:XeF2、N2
・到達真空度:10 Pa
・基板サイズ:
φ4インチウエハ 1枚
不定形(φ4インチ以内)
・基板温度:室温℃
備考
装置利用料金
¥4,000/H
関連消耗品など
XeF2:XeF2ガス
※XeF2ガス使用回数(回)
装置仕様
・Si、Moなどの等方性エッチング
・使用可能ガス:XeF2、N2
・到達真空度:10 Pa
・基板サイズ:
φ4インチウエハ 1枚
不定形(φ4インチ以内)
・基板温度:室温℃
備考