簡易SEM 日本電子製 JCM-5700 2010年1月導入 装置利用料金 ¥2,500/H 商品コード: 55 カテゴリー: 状態評価室(2階) 説明 説明 装置仕様 ・表面・断面観察 ・Wフィラメント電子銃 ・φ6inchまで対応可能 ・分解能:5.0nm ・倍率:x8~x300,000 ・加速電圧:0.5~20 kV 備考 関連商品 FIB/SEM複合装置 表面形状測定器3 SCM/SPM装置 表面形状測定器2