SCM/SPM装置

日本ビーコ製 MultiModeVS SPM System 2010年3月導入


装置利用料金
学内利用者 ¥1,250/H

学外利用者 ¥2,000/H

商品コード: 59 カテゴリー:

説明

装置仕様
・表面形状観察
[対応可能測定]
・コンタクトモード
・タッピングモード
・電力顕微鏡モード(EFM)
・磁力顕微鏡モード(MFM)
・表面電位顕微鏡モード
・走査型容量顕微鏡(SCM)
・ねじれ振幅測定モード(TRmode)
・フォースカーブモード
・ナノインデンテーションモード

備考
学内利用,学外利用,共同研究,受託研究,オペレーターの有無に拘わらず,測定を希望する場合は,カンチレバーは利用者負担となります.所望の測定に対応したカンチレバーをご用意の上,利用申込をお願いいたします. 各測定で用意すべきカンチレバーが不明な場合はお問い合わせください.



お知らせ: 中核人材(プロセス)教育 参加者募集中!!

2020年度の開催については、E日程(10/20-23)以降について、申し込みを受け付けております。状況によっては開催キャンセルとなる可能性がありますので、ご了承の上、申し込みをお願いいたします。

   

 

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