膜厚測定器 ナノスペック製 M5000 装置利用料 \2500/H 商品コード: 96 カテゴリー: 炉体室 説明 説明 装置仕様 ・白色光干渉型膜厚測定器 ・透明薄膜の光学的膜厚測定 ・測定可能試料:SiO2/Si、SiN/Si ※データを設定すれば他の透明膜も測定可能 ・分解能:1 nm 備考 関連商品 四探針測定器1 エリプソメーター ダイシェアテスト装置