装置一覧
| 装置写真 | 装置名 | 装置番号 | 用途/カテゴリ | 設置場所 | 仕様 | 型番 | メーカー | 装置利用料 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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簡易SEM | 55 |
表面・断面観察 観察 評価・観察装置 | 2Fマイクロ化技術室 | 微細パターン観察(電子) | JCM-5700 | 日本電子 | 2,500円/時間 |
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FIB/SEM複合装置 | 57 |
表面・断面観察 評価・観察装置 | 2F状態評価室 | 微細パターン観察(電子) | JIB-4600F | JEOL | 4,000円/時間 |
