九州工業大学 マイクロ化総合技術センター

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装置一覧

装置写真 装置名 装置番号 用途/カテゴリ 設置場所 仕様 型番 メーカー 装置利用料
FIB/SEM複合装置 57 表面・断面観察
評価・観察装置
2F状態評価室 微細パターン観察(電子) JIB-4600F JEOL 4,000円/時間
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