装置一覧
| 装置写真 | 装置名 | 装置番号 | 用途/カテゴリ | 設置場所 | 仕様 | 型番 | メーカー | 装置利用料 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
プロービングシステム | 62 |
特性評価 評価・観察装置 | 2F設計開発室 | トランジスタなどのデバイス電気的評価 | アジエントテクノロジー＋ベクターセミコン | 2,500円／時間 | |
|
高電圧カーブトレーサ＋プローバー | 63 |
特性評価 評価・観察装置 | 2Fマイクロ化技術室 | トランジスタなどのデバイス電気的評価（高電圧） | CS-3300 | 岩通＋ベクターセミコン | 2,500円／時間 |
|
半導体パラメーターアナライザー３ ＋プローバー | 86 |
特性評価 評価・観察装置 | 2F設計開発室 | トランジスタなどのデバイス電気的評価 | B1500A | Agilent ＋MICRONICS JAPAN | 2,500円／時間 |
|
オートプローバー | 101 |
特性評価 評価・観察装置 | 2Fシステム化技術室 | トランジスタなどのデバイス電気的評価 | B1500A+HSP-150 | Agilent＋HISOL | 2,500円／時間 |