装置の詳細

 SCM/SPM装置 日本ビーコ製 MultiModeVS SPM System 2010年3月導入

状態評価室
装置仕様
・表面形状観察
[対応可能測定]
 ・コンタクトモード
 ・タッピングモード
 ・電力顕微鏡モード(EFM)
 ・磁力顕微鏡モード(MFM)
 ・表面電位顕微鏡モード
 ・走査型容量顕微鏡(SCM)
 ・ねじれ振幅測定モード(TRmode)
 ・フォースカーブモード
 ・ナノインデンテーションモード
装置利用料金(1時間当たり)
学内利用者 ¥1,000 学外利用者 ¥1,600
 
・オペレーター支援の場合は別途オペレーター料金が必要です。:3,000円/時間 (学内、学外同額)
・使用可能時間は9:00~17:00です。(時間外の利用も相談に乗ります)
備考
学内利用,学外利用,共同研究,受託研究,オペレーターの有無に拘わらず,測定を希望する場合は,カンチレバーは利用者負担となります.所望の測定に対応したカンチレバーをご用意の上,利用申込をお願いいたします. 各測定で用意すべきカンチレバーが不明な場合はお問い合わせください.